TSS-5X紅外線放射率測(cè)試器

日本tss-5x-3紅外線發(fā)射率測(cè)試儀也稱為tss-5x紅外線放射率測(cè)試器，遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀，本測(cè)量器可以用非常簡(jiǎn)單且高精度的方式,測(cè)量在常溫中的各種材料的表面發(fā)射率。
該儀器早已經(jīng)由材料科研單位、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的單位采用。 廣泛用于紅外材料測(cè)量。
應(yīng)用：
1、在機(jī)器的熱設(shè)計(jì)中必須使用的零件的發(fā)射率測(cè)量；
2、藉由放射溫度計(jì)的測(cè)量物體來補(bǔ)正放射率；
3、各種零件的加工、處理前后的發(fā)射率比較；
4、其他、從零件的放射率求取物體本身的發(fā)射率等；
5、材料科學(xué)院、實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域必須的檢測(cè)分析設(shè)備。
產(chǎn)品構(gòu)成：
１．紅外線照射源
藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在材料中集中照射。
２．紅外線檢驗(yàn)素子
從材料反射出的能量的一部分，射進(jìn)半球面黒體爐的頂點(diǎn)的小孔，用一定比率做檢驗(yàn)。
注：比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來決定。
３．發(fā)射率演算回路
從反射能量檢驗(yàn)器的輸出，演算試料的發(fā)射率。
注：材料的反射率和發(fā)射率的關(guān)系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
用發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片（ε＝０．０６與０．９４）做校準(zhǔn).
測(cè)量原理：利用恒溫放射的遠(yuǎn)紅外線發(fā)射源，將能量照射后計(jì)算所反射的能量。
測(cè)量波長(zhǎng)：2-22μｍ
測(cè)量范圍：0.00-1.00
額定精度：±0.01
測(cè)量面積：φ15mm
測(cè)量距離：12mm（固定探頭的腳柱部）
被測(cè)物溫：10-40℃（室溫）
輸出：0-0.1v，0-1v（滿載）
使用溫度：10-45℃
使用濕度：35-85%rh（未結(jié)露、霜之狀態(tài)）
使用電源：ac100v ±10%，50/60hz
外型尺寸：探頭φ51x137mm（0.5kg）
主機(jī)：h170x w306ｘd230mm（5kg）
配件：發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片0.94、0.06各一片。