第三代半導體GaN測試儀

第三代半導體gan測試儀認準普賽斯儀表，國產自主研發，廠家z銷！*，測試范圍更廣，輸出電壓高達300v，支持usb存儲，一鍵導出報告，符合大環境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統解決方案，及時指導客戶編程，加速測試系統開發，詳情請聯系普賽斯儀表銷售專員為您解答一八一四零六六三四七六
源表特點：
同時j確提供和測量電壓和/或電流；
同步測量，減少測試時間
提供和測量非常廣的電流和電壓；
電壓可達300mv-300v,電流達100na-1a
支持運行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產測試速度；
序列測試，簡化操作，降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經驗是否豐富，使用起來都非常簡便；
觸屏操作
與傳統電源比：
電源過零需要改變線連接方式；
增加需反復開關機械開關，降低了設備可靠性
電壓電流限制精度有限；
電壓1%，電流10ma
與電源結合萬用表組合比：
萬用表電源組合需要編程實現設備控制及同步；
復雜連線、編程開發
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低，瞬態特性也無法保證