可控硅綜合參數測試儀

igbt參數測試設備：
靜態參數測試（包括ige / vge(th) / vcesat / vf / ice / vce）；動態參數（開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區）測試（包括turn_on&off / qrr_frd / qg / rg / uis / sc / rbsoa 等）；老化及可靠性測試（htrb / htgb）。
二極管及可控硅/晶閘管（scr）參數測試設備：
靜態參數測試（包括igt/vgt / ih / vtm / vd/id / vr/ir / dv/dt / il ）；動態參數測試（turn_on&off / qrr_frd）；浪涌參數測試itsm；di/dt測試；老化及可靠性測試（高溫阻斷）；熱阻參數測試rth。
產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢，將廣泛應用于idm廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等。